1. 主要功能及特色:
设备采用感应耦合等离子体方式产生高密度高功率等离子体,利用Bosch工艺,实现Si的深度刻蚀。在集成电路的制造、微机电系统的设计、微纳光子学的研究以及三维集成电路堆叠等领域具有广泛应用。
2. 主要规格及技术指标:
反应腔本底真空:≤3*10-6Torr |
真空漏率:≤5mTorr/min |
气路配置:SF6,C4F8, O2和Ar |
射频发生器:上电极:2MHz,最大功率3500W; 下电极:100KHz,最大功率100W |
下电极温度:-40℃~40℃ |
样品尺寸:支持4寸及以下样品 |
配置终点侦测:激光波长670nm,光斑尺寸<80μm,视场1.5mm*1.5mm |
刻蚀速率:~5μm/min |
刻蚀深度:可达500μm |
选择比(SPR220-7):80:1 |
选择比(SiO2):150:1 |
晶圆内均一性:<±3%(4inch) |
3.服务内容:
委托加工服务,采用在设备预约系统申请“送样预约”模式。