立志微纳,成才卓越
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1. 主要功能及特色:
测量量子器件的表面形貌、重复性、分辨率高,处理速度快
2. 主要规格及技术指标:
台阶高度重复性:0.5 nm
扫描长度范围:55 mm
垂直方向分辨率:最高分辨率可达1 Å(在6.55 μm测量范围内)
垂直方向扫描范围:1mm (0.039英寸)
3.服务内容:
提供用户自主操作、委托加工服务
设备状态良好,可供使用
1.主要针对仪器操作步骤、注意事项等进行培训
2.培训方式:请到SMDL日历中查阅与报名
SQDL平台线性扫描轮廓仪DektakXT 操作规程和用户手册(SOP).pdf
暂无